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随着集成电路规模的不断扩大,从设计到流片(Tape-out)的全流程中,验证环节的核心地位日益凸显。有效的验证不仅是设计完美的基石,更是确保电路在实际应用中稳定运行的保障。尤为关键的是,逻辑或功能错误是导致流片失败的首要原因,占比高达50%。功能验证正是解决这一难题的利器,它助力工程师精准识别逻辑设计漏洞、性能不达标问题以及设计代码中的功能缺陷,从而最大限度地规避流片风险。